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SuperViewW系列3D顯微光學輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。
SJ5700DUAL螺紋雙向掃描型輪廓測量儀是大量程、高精度的主動掃描式綜合輪廓測量儀。它可以全量程大范圍連續(xù)掃描,擁有長達數(shù)百毫米的持續(xù)爬坡能力,非常適合大范圍陡坡表面測量,大工件無需翻轉、傾斜調整,就可實現(xiàn)輕松測量。
SJ5800凹槽凸度曲線輪廓測量儀高穩(wěn)定的驅動設計,確保了驅動運行過程中不產(chǎn)生任何的振動及干擾,保障了系統(tǒng)掃描運動精度,具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍,專業(yè)測試軸承內外側。分辨率高達到0.1nm,系統(tǒng)殘差小于3nm。
SuperViewW自動精密三維光學輪廓測量儀以白光干涉技術為原理,特殊光源模式可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。
SJ5800輪廓形狀粗糙度測量儀采用超高精度納米衍射光學測量系統(tǒng)、超高直線度研磨級摩擦導軌、高性能直流伺服驅動系統(tǒng)、高性能計算機控制系統(tǒng)技術,一次測量掃描后,在同一個界面顯示粗糙度評價結果與輪廓分析結果。
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