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        納米級材料尺寸如何測量?

        更新時間:2024-07-09      點擊次數:685

        在納米顯微測量領域,中圖儀器基于納米傳動與掃描技術、白光干涉與高精度3D重建技術、共聚焦測量等技術積累,推出了具有自主知識產權的白光干涉儀(Z向分辨率可高達0.1納米)和共聚焦顯微鏡,廣泛應用于半導體、3C電子、高??蒲械刃袠I(yè)領域。

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        從納米到宏觀,產品解決方案全面覆蓋,滿足多樣化需求:

        1、光學3D表面輪廓儀

        SuperView W系列光學3D表面輪廓儀利用白光干涉技術,結合精密Z向掃描模塊和3D建模算法,能夠對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。

        典型應用:

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        2、共聚焦顯微鏡

        VT6000系列共聚焦顯微鏡以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。

        典型應用:

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        3、臺階儀

        CP系列臺階儀采用了線性可變差動電容傳感器LVDC,集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標定算法等核心技術,具備超微力調節(jié)的能力和亞埃級的分辨率。

        典型應用:

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        中圖儀器以深厚的技術積累、創(chuàng)新的產品解決方案和全球化的服務網絡,為全球客戶提供精準、可靠的測量產品和服務。未來公司將不斷推動科技創(chuàng)新,繼續(xù)在精密測量領域發(fā)揮領導作用,助力科技進步和工業(yè)發(fā)展。

        深圳市中圖儀器股份有限公司
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