臺(tái)階儀,也稱為探針式輪廓儀或接觸式表面輪廓測量儀,主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。
臺(tái)階儀的核心部件是一個(gè)精密的觸針或探針,它被安裝在一個(gè)高度可調(diào)的支架上。當(dāng)觸針沿被測表面輕輕滑過時(shí),由于表面可能存在微小的峰谷,觸針在滑行的同時(shí)會(huì)根據(jù)表面的起伏作上下運(yùn)動(dòng)。這些上下運(yùn)動(dòng)被轉(zhuǎn)換為電信號(hào),通過精密的傳感器和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)記錄下來。
臺(tái)階儀測量膜厚的原理是基于臺(tái)階高度差的變化。具體操作時(shí),臺(tái)階儀的探針會(huì)沿著薄膜表面移動(dòng),探針上的傳感器會(huì)記錄下探針在薄膜表面和基底表面的垂直位移變化,并通過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)轉(zhuǎn)換成薄膜的厚度值,從而計(jì)算出薄膜厚度。
CP系列臺(tái)階儀采用LVDC電容傳感器,具有亞埃級分辨率和超微測力特點(diǎn)。在測量測薄膜厚度方面,具有以下特點(diǎn):
1)結(jié)合了360°旋轉(zhuǎn)臺(tái)的全電動(dòng)載物臺(tái),能夠快速定位到測量標(biāo)志位;
2)對于批量樣件,提供自定義多區(qū)域測量功能,實(shí)現(xiàn)一鍵多點(diǎn)位測量;
3)提供SPC統(tǒng)計(jì)分析功能,直觀分析測量數(shù)值變化趨勢;
1、高精度
CP系列臺(tái)階儀出色的重復(fù)性和再現(xiàn)性,其分辨率可達(dá)納米級別,滿足被測件測量精度的要求。它采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,接觸力非常小,具備超高的測量精度和測量重復(fù)性,亞埃級垂直分辨率適合各類材質(zhì)、吸光特性的表面測量。
2、高效率
配備有高速數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng),采用超精細(xì)的運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),測量穩(wěn)定、便捷、高效。
3、多樣化的測量功能
除了測量膜厚,臺(tái)階儀還可以測量表面粗糙度、臺(tái)階高度等多種表面特性,具有很強(qiáng)的多功能性。
4、適應(yīng)范圍廣
臺(tái)階儀樣品適應(yīng)面廣,對測量表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求。
5、操作簡單
臺(tái)階儀配備有用戶友好的操作界面和強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理軟件,操作簡單。用戶只需將探針放置在臺(tái)階上,儀器便會(huì)自動(dòng)計(jì)算出薄膜的厚度,無需復(fù)雜的校準(zhǔn)過程。
臺(tái)階儀在膜厚測量領(lǐng)域有其優(yōu)勢,它不僅提供了高精度的測量結(jié)果,而且同時(shí)具備快速、多功能和易于操作的特點(diǎn)。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,臺(tái)階儀在材料科學(xué)和精密工程中的應(yīng)用將會(huì)更加廣泛,為薄膜材料的研究和質(zhì)量控制提供強(qiáng)有力的支持。
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